P-MECとは、Pharmaceutical Machinery & Equipment Convention の略称で装置・機器を主な出展対象として、2005年からCPhI World Wideの併催展としてスタートし、今日では中国、インドにおいてもCPhIの同時開催展としてサテライト化されています。
一方、日本では、2002年にCPhI JAPANが開催されて以来、業界のサプライヤー、バイヤーからの原薬、中間体分野における機器、装置に対する展示要請が増加しており、こうした要請に応える形で、2008年4月より、「CPhI JAPAN」「ICSE JAPAN」の併催展として開催、2009年には、製薬・化学メーカーからの強い要望を受け、製造機器・設備ゾーンを新設しました。
名称 |
P-MEC JAPAN 2010 (第3回 原薬・中間体 機器/装置展) |
併催 |
CPhI JAPAN 2010 (第9回 国際医薬品原料・中間体展)
ICSE JAPAN 2010 (第6回 製薬業界受託サービスエキスポ)
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会議 |
基調講演・コンファレンス・セミナー |
会期 |
2010年4月21日（水）、22日（木）、23日（金）
10:00 ～ 17:00
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会場 |
東京ビッグサイト 東5・6ホール |
主催 |
化学工業日報社、CMPビジネスメディア、CMP Information |
出展社数 |
450社（予定） *併催展との合計 |
来場者数 |
15,000人（予定） *併催展との合計 |
原薬・中間体分野に特化した日本唯一の国際テクノロジー展
【反応機器（装置）】
マルチ合成装置、マイクロリアクター
【分解・蒸留・分離・濃縮装置】
分解装置、蒸留装置、遠心分離装置、透析装置、純水製造装置、濃縮装置、固相・液相・超臨界抽出装置
【電気化学分析装置】
電気滴定装置、ポーラログラフ、電解・電量分析装置、導電率計、pH計、電極式濃度測定装置
【光分析装置】
紫外・可視分光光度計、赤外分光光度計（分散形、フーリエ変換形）、近赤外分光光度計、光電測光式発光分光分析装置、誘導結合高周波プラズマ発光分析装置、原子吸光分析装置（フレーム方式、電気加熱方式）、蛍光光度分析装置、ラマン分光光度計、施（偏）光分散計、光電光度計・比色計、濁度計、光散乱光度計、色彩測定器、屈折計、デンシトメータ、化学発光分析装置など
【電磁気分析装置】
X線回析装置、蛍光X線分析装置、X線吸収分析装置、電子プローブX線マイクロアナライザ、X線応力測定装置、質量分析装置（二重収束形、四重極形、GC/MS、LC/MS、ICP/MS）、二次イオン質量分析装置、飛行時間型質量分析装置、核磁気共鳴装置、フーリエ変換型核磁気共鳴装置、電子スピン共鳴装置、電子分光装置、透過電子顕微鏡、走査電子顕微鏡、走査トンネル顕微鏡、磁化率測定装置、内部摩擦測定装置など
【分離分析装置】
ガスクロマトグラフ、高速液体クロマトグラフ、専用液体クロマトグラフ、カラムクロマトグラフ、イオンクロマトグラフ、薄層クロマトグラフ、超臨界流体クロマトグラフ、電気泳動装置など
【熱分析・熱測定装置】
熱重量測定装置、示差熱分析装置、示差走査熱量計、熱膨張及び熱機械的分析装置、熱電導率計、熱量計など
【専用測定装置】
有機微量元素分析装置及びガス分析装置、水分測定装置、密度測定装置、粘度・粘弾性測定装置、表面積・比表面積測定装置、粒径・粒度分布測定装置
【製造機器・設備】
反応釜、ろ過器、遠心分離機、粉砕機、乾燥機、攪拌機、コンテイナーなど
冷却機器・装置、分析用天秤、におい識別装置など
